Douille de Test PPS
Les douilles de test IC (sockets de test, connecteurs de test) sont des équipements importants dans les tests de semi-conducteurs. Elles fournissent un point de connexion fiable et mécaniquement stable, permettant aux testeurs de vérifier les puces et de détecter les défauts de fabrication et les défaillances des composants sans nécessiter de soudure permanente ou de montage sur des cartes de circuits imprimés.
Lorsque les puces IC sont testées individuellement, une douille de test aux dimensions stables à haute température et capable de résister à des milliers de frictions de contact est requise. Les douilles de test IC en matériau PEEK/PPS présentent les avantages suivants :
1. Le PEEK/PPS peut supporter des charges statiques élevées à hautes températures et possède une large bande passante stable, une faible résistance et une faible inductance.
2. Le PEEK/PPS peut maintenir une bonne stabilité dimensionnelle sur une large plage de températures, s’adaptant à un environnement de travail de -40℃ à 125℃, répondant aux exigences de test dans diverses conditions extrêmes, et garantissant la stabilité dimensionnelle de haute précision de la douille de test IC pendant son fonctionnement.
3. Le PEEK/PPS possède une haute résistance et une résistance à l’usure ultra-élevée. Il peut supporter des dizaines de milliers de frictions de contact des puces IC et assurer la fiabilité des douilles de test IC.
Avec le développement technologique, la densité de transistors des puces semi-conductrices est de plus en plus élevée, et la complexité et l’intégration des produits associés croissent de manière exponentielle, ce qui représente un défi sans précédent pour la conception et le développement des puces.
Simultanément, alors que le cycle de développement des puces se raccourcit, le taux de succès de la mise en production (tape-out) est de plus en plus exigeant, et tout échec représente une perte considérable pour l’entreprise. De plus, la technologie des procédés semi-conducteurs s’améliore constamment, avec de nombreux défis techniques à relever. Les tests de semi-conducteurs traversent toute la chaîne industrielle des IC.
Choisir le matériau approprié pour la douille de test est crucial car il affecte directement la précision et la fiabilité du test.
Caractéristiques des matériaux des différentes douilles de test IC :
1. Le PEEK possède de bonnes propriétés globales et est le matériau le plus couramment utilisé. Il convient aux environnements à hautes et basses températures, tandis que le PPS a une ténacité légèrement inférieure.
2. Le TORLON a une bonne résistance à l’usure, mais ne convient pas aux hautes et basses températures, et est sujet à l’absorption d’humidité et à la déformation.
3. Le PEEK5600 est utilisé sous des exigences ESD antistatiques.
4. Le PI a une bonne ténacité, une forte résistance aux variations de tension, une résistance à l’absorption d’humidité, et un point de fusion élevé, mais son coût est élevé.
Junhua fournit depuis longtemps à ses clients des douilles de test PEEK/PPS hautes performances et de haute qualité, aidant les clients à mesurer avec précision les paramètres, à optimiser les solutions de conception correspondantes et à améliorer le rendement de production des produits. Elle peut personnaliser diverses spécifications et modèles de douilles IC PEEK/PPS selon les besoins des clients.
Depuis sa création en 2007, Junhua se concentre sur la recherche et développement d’applications et la production de résines polymères, de profilés et de produits tels que le PEEK (polyétheréthercétone) et le PI (polyimide), et possède des avantages sur l’ensemble de la chaîne industrielle.
Les produits sont largement utilisés dans les industries de l’électronique semi-conducteur, du photovoltaïque et des LED, couvrant des maillons clés tels que les équipements de production, le nettoyage, l’encollage, la gravure, le CMP, la découpe et les tests d’emballage. Les produits associés incluent : les outils de manipulation de wafers, les ventouses à vide sans soudure en PEEK, les pièces sur mesure en PI, les pièces sur mesure en PEEK, les dents de traction de wafer, les vis, écrous, rondelles en PEEK, les anneaux de retenue CMP en PEEK, les anneaux sélecteurs de galvanoplastie, les supports de wafer, les dispositifs de test IC, les plaques isolantes en PEEK, les plaques/barres/tubes en PEEK, les plaques/barres en PI et autres produits et profilés en plastiques techniques spéciaux.
S’appuyant sur les avantages de l’ensemble de la chaîne industrielle, l’entreprise fournit des solutions sur mesure pour l’industrie de haute technologie et promeut le progrès technologique industriel.